Фундаментальные исследования

         Исследования последнего десятилетия существенно расширили представления об эффектах в твердом теле, связанных с размерами зерен. Поликристаллические сверхмелкозернистые материалы со средним размером зерен от 100 - 150 нм до 40 нм называют обычно субмикрокристаллическими, а со средним размером зерен менее 40 нм - нанокристаллическими. Прикладной интерес к нанокристаллам обусловлен значительной модификацией и даже принципиальным изменением свойств известных материалов при переходе от кристаллического к нанокристаллическому состоянию, что используется при создании новых материалов и изделий из структурных элементов нанометрового размера. Обладая большим опытом в исследовании нанокристаллических систем Учебно-научный институт Экспериментального естествознания (УНИ ЭЕ) предлагает следующие виды высокотехнологичных услуг по фундаментальным исследованиям:

Рентгеноструктурный дифракционный анализ

Исследование структуры кристаллических и аморфных материалов:

  • прецизионное определение параметров решетки кристаллических веществ,
  • определение размеров кристаллитов,
  • изучение напряженного состояния вещества (напряжения I и II рода),
  • исследование текстур,
  • качественный и количественный фазовый анализ,
  • изучение структурных изменений, происходящих в деформированных металлах при нагреве,
  • определение аморфности вещества.

      Установки для исследований: дифрактометр рентгеновский общего назначения: ДРОН-6, ДРОН-3.0 (автоматизирован), ДРОН-3М (автоматизирован). Установки ДРОН-3, ДРОН-3М - высоко модернизированы с высокой степенью накопления статистики для исследования нанокристаллических материалов. Излучение: монохроматичное К-альфа, материалы анодов Co, Fe, Cu, Cr.

Электронно-микроскопические исследования

  • исследование микроструктуры,
  • исследование фазового состава,
  • наблюдение и фотографирование изображений в диапазоне 100 – 800000х,
  • металлографическое исследование микрошлифов (увеличение до 1000 х),
  • исследование фрактографии поверхности любых твердотельных объектов: металлы, неметаллы, биообъекты и др.,
  • поэлементный химический анализ с Mg до U, распределение по поверхности образца.

Есть весь стандартный набор методик приготовления и исследования объектов. Установки для исследований: просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125, растровый электронный микроскоп РЭМ-100У, оптический микроскоп NEOPHOT-32.

Спектрофотометрия, ИК- и рамановская спектроскопия

  • комплексные исследования свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (в составе комплекса Centaur UHR). Полные спектры рамановского рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), включая СЗМ изображения,
  • спектральные характеристики исследуемых образцов (коэффициент пропускания, отражения, оптическая плотность),
  • качественное и количественное исследование жидких, твердых веществ путем регистрации спектров поглощения или пропускания в средней и ближней инфракрасной области,
  • определение оптических постоянных чистых и покрытых пленками поверхностей твердых тел, слоистых структур.

       Установки для исследований: комплекс Centaur UHR, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп, конфокальный микроскоп/спектрометр с двойной дисперсией. Для измерения спектров флюоресценции возбуждение на длинах волн 473 нм (синий), 532 нм (зеленый), 632,8 нм (красный); спектрофотометр СФ-56 (с приставками зеркального и диффузного рассеяния), ИК фурье-спектрометр ФСМ 1201 (с приставками зеркального и многократного нарушенного полного внутреннего (МНПВО) отражения), лазерный эллипсометр ЛЭФ-3М-1.

Зондовая микроскопия

Измерения приповерхностных характеристик (до атомного уровня): рельеф, силы трения, адгезии.

Установки для исследований: сканирующий зондовый микроскоп NT–MDT SOLVER P47-PRO, сканирующий зондовый микроскоп (в составе комплекса Centaur UHR).

Цены на услуги определяются по запросу.