Фундаментальные исследования

Исследования последнего десятилетия существенно расширили представления об эффектах в твердом теле, связанных с размерами зерен. Поликристаллические сверхмелкозернистые материалы со средним размером зерен от 100 - 150 нм до 40 нм называют обычно субмикрокристаллическими, а со средним размером зерен менее 40 нм - нанокристаллическими. Прикладной интерес к нанокристаллам обусловлен значительной модификацией и даже принципиальным изменением свойств известных материалов при переходе от кристаллического к нанокристаллическому состоянию, что используется при создании новых материалов и изделий из структурных элементов нанометрового размера. Обладая большим опытом в исследовании нанокристаллических систем Учебно-научный институт Экспериментального естествознания (УНИ ЭЕ) предлагает следующие виды высокотехнологичных услуг по фундаментальным исследованиям:

Рентгеноструктурный дифракционный анализ

Исследование структуры кристаллических и аморфных материалов:

Установки для исследований: дифрактометр рентгеновский общего назначения: ДРОН-6, ДРОН-3.0 (автоматизирован), ДРОН-3М (автоматизирован). Установки ДРОН-3, ДРОН-3М - высоко модернизированы с высокой степенью накопления статистики для исследования нанокристаллических материалов. Излучение: монохроматичное К-альфа, материалы анодов Co, Fe, Cu, Cr.

Электронно-микроскопические исследования

Есть весь стандартный набор методик приготовления и исследования объектов. Установки для исследований: сканирующий электронный микроскоп Inspect S50 с приставкой энергодисперсионного анализа, просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125, оптический микроскоп NEOPHOT-32.

Спектрофотометрия, ИК- и рамановская спектроскопия

Установки для исследований: комплекс Centaur UHR, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп, конфокальный микроскоп/спектрометр с двойной дисперсией. Для измерения спектров флюоресценции возбуждение на длинах волн 473 нм (синий), 532 нм (зеленый), 632,8 нм (красный); спектрофотометр СФ-56 (с приставками зеркального и диффузного рассеяния), ИК фурье-спектрометр ФСМ 1201 (с приставками зеркального и многократного нарушенного полного внутреннего (МНПВО) отражения), лазерный эллипсометр ЛЭФ-3М-1.

Зондовая микроскопия

Измерения приповерхностных характеристик (до атомного уровня): рельеф, силы трения, адгезии.

Установки для исследований: сканирующий зондовый микроскоп NT–MDT SOLVER P47-PRO, сканирующий зондовый микроскоп (в составе комплекса Centaur UHR).

Цены на услуги определяются по запросу.